Näita mobiiliversiooni

Liigu sisu juurde Liigu peamenüü juurde

Avaleht / Raamatud / Tehnika / Varia / Next Generation HALT and HASS

Raamat

Next Generation HALT and HASS

Autor: Kirk A. Gray, John James Paschkewitz

* * * * * * * * * * Loe arvustusi (0)

Toode pole saadaval

Sisukirjeldus

Next Generation HALT and HASS presents a major paradigm shift from reliability prediction-based methods to discovery of electronic systems reliability risks.

Lisainfo
ISBN 9781118700235
Ilmumisaasta 2016
Keel ingliskeelne
Formaat Kõvakaaneline
Lehekülgi 296 lk
Mõõt 229x152x28 (mm)
Kirjastus John Wiley & Sons Inc
Sari Quality and Reliability Engineering Series
Lisamise aeg: 25.01.2016

Toode pole saadaval

Arvustused (0)
Suhtlusvõrkude arvustused

Vabandame! Teie veebilehitseja on liiga väike meie kodulehe külastamiseks.

We're sorry! Your browser is too small for this website.

Приносим извинения! Размеры вашего браузера слишком малы для посещения нашей страницы.