Kategooriad
Eesti
Raamatupoed
Outlet
Sündmused
Sisene
Registreeru
Kategooriad
Raamatud
Audioraamatud
E-raamatud
Mängud
Kool ja kontor
Kingitused
Muusika ja filmid
Tehnika
Allahindlused
Kohaletoimetamine on tasuta!
Raamatud
Tehnika
Varia
Next Generation HALT and HASS
Next Generation HALT and HASS
Autor
Kirk A. Gray
,
John James Paschkewitz
Next Generation HALT and HASS presents a major paradigm shift from reliability prediction-based methods to discovery of electronic systems reliability risks.
Toode on otsas
Lisa lemmikutesse
Teavita, kui saadaval
Support