Näita mobiiliversiooni

Liigu sisu juurde Liigu peamenüü juurde

Avaleht / Raamatud / Tehnika / Varia / Influence of Temperature on Microelectronics and System Reliability

Raamat

Influence of Temperature on Microelectronics and System Reliability

Autor: Pradeep Lall (Auburn University, Alabama, USA), Michael Pecht (University of Maryland, College Park, USA), Edward B. Hakim (U.S. Army Research Laboratory, Ft. Monmouth, NJ)

* * * * * * * * * * Loe arvustusi (0)

Toode pole saadaval

Sisukirjeldus

Presents scientific basis for achieving system operation without reliability penalties at realistic steady state temperatures. From a physics-of-failure perspective, this book explores the temperature effects on electrical parameters of both bipolar and MOSFET devices and identifies models for quantifying temperature effects on package elements.

Lisainfo
ISBN 9780849394508
Ilmumisaasta 1997
Keel ingliskeelne
Formaat Kõvakaaneline
Lehekülgi 336 lk
Kirjastus Taylor & Francis Inc
Lisamise aeg: 03.12.2018

Toode pole saadaval

Arvustused (0)
Suhtlusvõrkude arvustused

Vabandame! Teie veebilehitseja on liiga väike meie kodulehe külastamiseks.

We're sorry! Your browser is too small for this website.

Приносим извинения! Размеры вашего браузера слишком малы для посещения нашей страницы.