Näita mobiiliversiooni

Liigu sisu juurde Liigu peamenüü juurde

Avaleht / Raamatud / Tehnika / Varia / Backscattering from Multiscale Rough Surfaces with Application to Wind Scatterometry

Raamat

Backscattering from Multiscale Rough Surfaces with Application to Wind Scatterometry

Autor: Adrian K. Fung

* * * * * * * * * * Loe arvustusi (0)

229.16 €Püsikliendile: 217.70 €Toodet on alles vähem kui 10 eksemplari!

Kaup kätte: 2-4 nädalat, hiljemalt 29.03

Sisukirjeldus

This resource explains and demonstrates the backscattering properties of multiscale rough surfaces, and illustrates their application to establish the geophysical model function (GMF) needed in wind scatterometry.

Lisainfo
ISBN 9781630810009
Ilmumisaasta 2015
Keel ingliskeelne
Formaat Kõvakaaneline
Lehekülgi 328 lk
Kirjastus Artech House Publishers
Lisamise aeg: 10.02.2020

229.16 €Toodet on alles vähem kui 10 eksemplari!

Kaup kätte: 2-4 nädalat, hiljemalt 29.03

Kategooria TOP

Arvustused (0)
Suhtlusvõrkude arvustused

Vabandame! Teie veebilehitseja on liiga väike meie kodulehe külastamiseks.

We're sorry! Your browser is too small for this website.

Приносим извинения! Размеры вашего браузера слишком малы для посещения нашей страницы.