Näita mobiiliversiooni

Liigu sisu juurde Liigu peamenüü juurde

Avaleht / Raamatud / Teadus / Muu teadus / Scanning Electron Microscopy

Raamat

Scanning Electron Microscopy

Autor: Ludwig Reimer

* * * * * * * * * * Loe arvustusi (0)

Toode pole saadaval

Sisukirjeldus

The different imaging and analytical modes using secondary and backscattered electrons, electron-beam-induced currents, X-ray and Auger electrons, electron channelling effects, and cathodoluminescence are discussed to evaluate specific contrasts and to obtain quantitative information.

Lisainfo
ISBN 9783540639763
Ilmumisaasta 1998
Keel ingliskeelne
Formaat Kõvakaaneline
Lehekülgi 529 lk
Kirjastus Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG
Sari Springer Series in Optical Sciences
Lisamise aeg: 11.03.2019

Toode pole saadaval

Arvustused (0)
Suhtlusvõrkude arvustused

Vabandame! Teie veebilehitseja on liiga väike meie kodulehe külastamiseks.

We're sorry! Your browser is too small for this website.

Приносим извинения! Размеры вашего браузера слишком малы для посещения нашей страницы.