Näita mobiiliversiooni

Liigu sisu juurde Liigu peamenüü juurde

Avaleht / Raamatud / Teadus / Muu teadus / Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

-15%

Raamat

Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

Autor: Joseph I. Goldstein, Dale E. Newbury (National Institute of Standards and Technology, Gaithersburg, MD, USA), D. C. Joy, Charles E. Lyman (Lehigh University, Bethlehem, PA, USA), Patrick Echlin, Eric Lifshin, Linda C. Sawyer, J.R. Michael (Sandia National Laboratories, Albuquerque, NM, USA)

* * * * * * * * * * Loe arvustusi (0)

144.07 122.46 €Toodet on alles vähem kui 10 eksemplari!

Kaup kätte: 2-4 nädalat, hiljemalt 23.02

Sisukirjeldus

An ideal text for students as well as practitioners, this is a comprehensive introduction to the field of scanning electron microscopy (SEM) and X-ray microanalysis. The authors emphasize the practical aspects of the techniques described.

Lisainfo
ISBN 9780306472923
Ilmumisaasta 2002
Keel ingliskeelne
Formaat Kõvakaaneline
Lehekülgi 689 lk
Mõõt 254x178x36 (mm)
Kirjastus Springer Science+Business Media
Lisamise aeg: 23.07.2015

144.07 122.46 €Toodet on alles vähem kui 10 eksemplari!

Kaup kätte: 2-4 nädalat, hiljemalt 23.02

Arvustused (0)
Suhtlusvõrkude arvustused

Vabandame! Teie veebilehitseja on liiga väike meie kodulehe külastamiseks.

We're sorry! Your browser is too small for this website.

Приносим извинения! Размеры вашего браузера слишком малы для посещения нашей страницы.