Näita mobiiliversiooni

Liigu sisu juurde Liigu peamenüü juurde

Avaleht / Raamatud / Tehnika / Üldtehnika / Introduction to Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry

Raamat

Introduction to Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry

Autor: Sarah Fearn

* * * * * * * * * * Loe arvustusi (0)

Toode pole saadaval

Sisukirjeldus

Highlights the application of Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry (ToF-SIMS) for high-resolution surface analysis and characterization of materials. While providing a brief overview of the principles of SIMS, it also provides examples of how dual-beam ToF-SIMS is used to investigate a range of materials systems and properties.

Lisainfo
ISBN 9781681740249
Ilmumisaasta 2015
Keel ingliskeelne
Formaat Pehmekaaneline
Lehekülgi 66 lk
Kirjastus Morgan & Claypool Publishers
Lisamise aeg: 13.03.2017

Toode pole saadaval

Arvustused (0)
Suhtlusvõrkude arvustused

Vabandame! Teie veebilehitseja on liiga väike meie kodulehe külastamiseks.

We're sorry! Your browser is too small for this website.

Приносим извинения! Размеры вашего браузера слишком малы для посещения нашей страницы.