Näita mobiiliversiooni

Liigu sisu juurde Liigu peamenüü juurde

Avaleht / Raamatud / Kultuur ja ühiskond / Keel ja kirjandus / Introduction to Many-Facet Rasch Measurement

Raamat

Introduction to Many-Facet Rasch Measurement

Autor: Thomas Eckes

* * * * * * * * * * Loe arvustusi (0)

61.14 58.08 €Toodet on alles vähem kui 10 eksemplari!

Kaup kätte: 2-4 nädalat (tellime välismaalt), hiljemalt 21.09

Sisukirjeldus

This revised and updated Second Edition provides an introduction to the psychometric analysis and evaluation of rater-mediated assessments using many-facet Rasch measurement (MFRM). Essay rating data are used to illustrate the study of rater errors and biases and their implications for drawing reliable, valid, and fair inferences from assessment outcomes.

Lisainfo
ISBN 9783631656150
Ilmumisaasta 2015
Keel ingliskeelne
Formaat Kõvakaaneline
Lehekülgi 241 lk
Kirjastus Peter Lang AG
Sari Language Testing and Evaluation
Lisamise aeg: 13.03.2017

61.14 58.08 €Toodet on alles vähem kui 10 eksemplari!

Kaup kätte: 2-4 nädalat (tellime välismaalt), hiljemalt 21.09

Arvustused (0)
Suhtlusvõrkude arvustused

Vabandame! Teie veebilehitseja on liiga väike meie kodulehe külastamiseks.

We're sorry! Your browser is too small for this website.

Приносим извинения! Размеры вашего браузера слишком малы для посещения нашей страницы.