Näita mobiiliversiooni

Liigu sisu juurde Liigu peamenüü juurde

Avaleht / Raamatud / Tehnika / Varia / Fatigue Testing and Analysis

Raamat

Fatigue Testing and Analysis

Autor: Yung-Li Lee, Jwo Pan, Richard Hathaway, Mark E. Barkey

* * * * * * * * * * Hinda ja arvusta (0)

138.12 131.21 €Toodet on alles vähem kui 10 eksemplari!

Kaup kätte: Kiirtellimusega: reede 29.09

Sisukirjeldus

Presents the proven techniques for fatigue data acquisition, data analysis, and test planning and practice. This book covers the comprehensive methods to capture the component load, to characterize the scatter of product fatigue resistance and loading, and to perform the fatigue damage assessment of a product.

Lisainfo
ISBN 9780750677196
Ilmumisaasta 2004
Keel ingliskeelne
Formaat Kõvakaaneline
Lehekülgi 416 lk
Kirjastus Elsevier Science & Technology
Lisamise aeg: 11.08.2014

138.12 131.21 €Toodet on alles vähem kui 10 eksemplari!

Kaup kätte: Kiirtellimusega: reede 29.09

Arvustused (0)
Suhtlusvõrkude arvustused

Vabandame! Teie veebilehitseja on liiga väike meie kodulehe külastamiseks.

We're sorry! Your browser is too small for this website.

Приносим извинения! Размеры вашего браузера слишком малы для посещения нашей страницы.